Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie

Name: Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
Brand: Springer Nature
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9783519032212

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Bei der Arbeit vieler Praktiker als Material- oder Werkstoff-Wissenschaftler, als Mineralogen, Chemiker oder Halbleiterphysiker erweist sich die Notwendigkeit, die submikroskopische Struktur der untersuchten Objekte zu kennen. - Die Bedeutung der Elektronenmikroskopie ist hier in stndigem Steigen begriffen, zumal sie neuerdings auch chemische Informationen bis hinab zu atomaren Dimensionen zu liefern vermag. Das vorliegende Buch vermittelt das Verstndnis der Transmissions-Elektronenmikroskopie anorganischer (d.h. in der Regel kristalliner) Objekte. Behandelt werden nach den optischen Grundlagen der Beugungskontrast, hochauflsende und analytische Elektronenmikroskopie. Aus dem Inhalt: Eine Einfhrung in die Transmissions-Elektronenmikroskopie fr Studierende der Physik, insbesondere der Festkrperphysik und der Werkstoffwissenschaften. Analogie zwischen Licht- und Elektronenmikroskopie. Wechselwirkung schneller Elektronen mit Materie. Dynamische Theorie der Beugung von Elektronenwellen an kristalliner Materie, Interpretation von Beugungskontrasten. Hochauflsende Elektronenmikroskopie, Chemische Inhomogenitten, Holographie. Analytische Elektronenmikroskopie.

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